テスト装置 （ATE) とバウンダリ スキャン ツールザイリンクスとサード パーティの充実したコレクション 以下のリソースからお選びください。 サード パーティのバウンダリ スキャン (JTAG) ツールはザイリンクスの製品をサポートしています。Acculogic, Inc. - 高速バウンダリ スキャン テストと ISP ソリューションを提供 Asset InterTech - 旧 Texas Instruments の一部門としてバウンダリ スキャン分析と半導体、基板、システム全体のテスト装置を提供 Corelis, Inc. - 充実したバウンダリ スキャン開発システム、テスト用ソフトウェア ツール、JTAG エミュレーション、マイクロプロセッサ開発ツール、 VXI バス テスト装置を提供 Goepel Electronic - バウンダリ スキャン テストとソフトウェア ソリューションを提供するヨーロッパの主要サプライヤ Intellitech Corporation - 完全なバウンダリ スキャン ソリューションを提供 JTAG Technologies - プログラミングとバウンダリ スキャン利用のテスト用のデザインから 製造、フィールドサービスにいたるまでの完全なライフサイクルの製品を提供 National Semiconductor - バッファ、トランシーバ、コントローラ シリコン ソリューションを含む多様なバウンダリ スキャン コンポーネントと SCANEASE ソフトウェア開発ツールを提供 Flynn Systems - ザイリンクス JTAG パラレル ケーブルと ATPG、JTAG シミュレータ、BSDL シンタックス チェッカ、 DFT 分析ツールを含む 完全で使いやすい TAP バウンダリ スキャン テスト ソフトウェアを 1000 ドル以下で提供 Texas Instruments - 広範なシリコン コンポーネントと ASSET と SCAN ENGINE 分析ツールを含むソフトウェア ソリューションを提供。さらに TI は、豊富な 1149.1 情報 を提供 Universal Scan - ベンチトップ サーキット カード デバッグとテスト用の経済的で使いやすいバウンダリ スキャン (JTAG) ツールを提供。チェーン内のすべてのスキャン イネーブル ピンをリアルタイムで PC スクリーン上に表示し、コントロールすることが可能 XJTAG - 30 日間無償の XJTAG 開発システムの評価を提供。XJTAG は、JTAG と非-JTAG デバイスを共にテスト可能かつ再利用可能スクリプトでお客様の開発時間を短縮 ATE ベンダAgilent - 測定およびテスト用の製品とサービスのサプライヤで、Agilent/Agilent 3070 Series II ファミリの完全ボード テスト機能を世界中に提供 Teradyne - 半導体とプリント基板用自動テスト装置の世界最大のサプライヤ アプリケーション ノートとデザイン ファイルXAPP067- 自動テスト装置とサードパーティのツールの SVF ファイルを使用する XC9500 デバイスのインシステム プログラミング) (PDF) XAPP104 - JTAG ISP クイック チェックリスト (PDF) XAPP113 - HP 3070 シリーズ テスタ上での、XC95216 および XC95108 デバイスの消去時間の高速化 (PDF) GenRad テスタ上でザイリンクス CPLD をプログラミングする) (PDF) シリアル ベクタ フォーマット (SVF) と JEDEC ファイル (ZIP) (ブランク XC9500 デバイス検証用) IFR 4200 シリーズ テスタでのザイリンクス XC9500 CPLD のプログラミング (PDF)| ファイル - PC 用 Teradyne Z1800 または Spectrum でのザイリンクス XC9500 のプログラミング (PDF)| ファイル - PC 用 Agilent 3070 テスタでのザイリンクス XC9500 CPLD のプログラミング (PDF)| ファイル - PC、HP、Solaris、SunOS 用 |