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AR# 3203

JTAG - TAP コントローラ ステートの概要

説明

キーワード : tap, controller, JTAG, boundary scan, states, タップ, コントローラ, バウンダリ スキャン, ステート

TAP コントローラ ステート マシンは、どのように動作しますか。

ソリューション

TAP コントローラは、16 ステートからなる FSM で、テスト アクセス ポート (TAP) から送られる制御シーケンスに応答します。 次の図に、ステート ダイアグラムを示します。

 The TAP Controller
The TAP Controller


ステート間の遷移は、TCK の立ち上がりエッジでのみ発生します。各ステートにはそれぞれ別の名前が付けられています。 縦の 2 列は、それぞれ 7 つのステートから構成されており、命令パスとデータ パスを表しています。 データ レジスタは、名前が DR で終わるステートで動作し、命令レジスタは名前が IR で終わるステートで動作します。 これを除き、ステートは同一です。

各ステートの動作を、次に示します。

Test-Logic-Reset
すべてのテスト ロジックがディスエーブルにされ、IC の通常動作がイネーブルにされます。 TAP コントローラのステート マシンは、コントローラの初期ステートにかかわらず、TMS を High にして TCK を 5 回発生させることで Test-Logic-Reset ステートになるように設計されています。 このため、テスト リセット (TRST) ピンはオプションです。

Run-Test-Idle
特定の命令が存在するときのみ IC 内のテスト ロジックがアクティブになります。
たとえば、命令によりセルフ テストがアクティブにした場合、このステートになったときにこの命令が実行されます。 それ以外のときは IC 内のテスト ロジックはアイドル状態になります。

Select-DR-Scan
データ パス ステートまたは Select-IR-Scan ステートのどちらに進むかを制御します。

Select-IR-Scan
命令パスに進むかどうかを制御します。 進まない場合は コントローラは Test-Logic-Reset ステートに戻ることができます。

Capture-IR
TCK の立ち上がりエッジで、命令レジスタに含まれるシフト レジスタ バンクにより固定値のパターンがパラレルに読み込まれます。 下位 2 ビットは、常に 01 である必要があります。

Shift-IR
命令レジスタが TDI と TDO の間に接続され、キャプチャされたパターンが TCK の立ち上がりエッジごとにシフトされます。 TDI ピンにある命令も命令レジスタにシフトされます。

Exit1-IR
Pause-IR ステートまたは Update-IR ステートのどちらに進むかを制御します。

Pause-IR
命令レジスタでのシフトを一時的に停止できます。

Exit2-DR
Shift-IR ステートまたは Update-IR ステートのどちらに進むかを制御します。

Update-IR
TCK の立ち下がりエッジごとに、命令レジスタに含まれる命令が命令レジスタのラッチ バンクに格納されます。 この命令は格納されると、現在の命令になります。

Capture-DR
TCK の立ち上がりエッジで、データが現在の命令で選択されたデータ レジスタにパラレルに読み込まれます。

Shift-Dr、Exit1-DR、Pause-DR、Exit2-DR、および Update-DR

これらのステートは、命令パスの Shift-IR、Exit1-IR、Pause-IR、Exit2-IR、および Update-IR ステートに類似しています。
AR# 3203
作成日 12/16/1997
最終更新日 03/07/2007
ステータス アクティブ
タイプ 一般