AR# 3203
JTAG - TAP コントローラ ステートの概要
説明
キーワード : tap, controller, JTAG, boundary scan, states, タップ, コントローラ, バウンダリ スキャン, ステートTAP コントローラ ステート マシンは、どのように動作しますか。
ソリューション
TAP コントローラは、16 ステートからなる FSM で、テスト アクセス ポート (TAP) から送られる制御シーケンスに応答します。 次の図に、ステート ダイアグラムを示します。
The TAP Controller
ステート間の遷移は、TCK の立ち上がりエッジでのみ発生します。各ステートにはそれぞれ別の名前が付けられています。 縦の 2 列は、それぞれ 7 つのステートから構成されており、命令パスとデータ パスを表しています。 データ レジスタは、名前が DR で終わるステートで動作し、命令レジスタは名前が IR で終わるステートで動作します。 これを除き、ステートは同一です。
各ステートの動作を、次に示します。
Test-Logic-Reset
すべてのテスト ロジックがディスエーブルにされ、IC の通常動作がイネーブルにされます。 TAP コントローラのステート マシンは、コントローラの初期ステートにかかわらず、TMS を High にして TCK を 5 回発生させることで Test-Logic-Reset ステートになるように設計されています。 このため、テスト リセット (TRST) ピンはオプションです。
Run-Test-Idle
特定の命令が存在するときのみ IC 内のテスト ロジックがアクティブになります。
たとえば、命令によりセルフ テストがアクティブにした場合、このステートになったときにこの命令が実行されます。 それ以外のときは IC 内のテスト ロジックはアイドル状態になります。
Select-DR-Scan
データ パス ステートまたは Select-IR-Scan ステートのどちらに進むかを制御します。
Select-IR-Scan
命令パスに進むかどうかを制御します。 進まない場合は コントローラは Test-Logic-Reset ステートに戻ることができます。
Capture-IR
TCK の立ち上がりエッジで、命令レジスタに含まれるシフト レジスタ バンクにより固定値のパターンがパラレルに読み込まれます。 下位 2 ビットは、常に 01 である必要があります。
Shift-IR
命令レジスタが TDI と TDO の間に接続され、キャプチャされたパターンが TCK の立ち上がりエッジごとにシフトされます。 TDI ピンにある命令も命令レジスタにシフトされます。
Exit1-IR
Pause-IR ステートまたは Update-IR ステートのどちらに進むかを制御します。
Pause-IR
命令レジスタでのシフトを一時的に停止できます。
Exit2-DR
Shift-IR ステートまたは Update-IR ステートのどちらに進むかを制御します。
Update-IR
TCK の立ち下がりエッジごとに、命令レジスタに含まれる命令が命令レジスタのラッチ バンクに格納されます。 この命令は格納されると、現在の命令になります。
Capture-DR
TCK の立ち上がりエッジで、データが現在の命令で選択されたデータ レジスタにパラレルに読み込まれます。
Shift-Dr、Exit1-DR、Pause-DR、Exit2-DR、および Update-DR
これらのステートは、命令パスの Shift-IR、Exit1-IR、Pause-IR、Exit2-IR、および Update-IR ステートに類似しています。
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| AR# 3203 | |
|---|---|
| 日付 | 03/07/2007 |
| ステータス | アクティブ |
| 種類 | 一般 |