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AR# 3650

JTAG - 自動テスト装置 (HP 3070、Teradyne、GenRad) を使用したザイリンクス デバイスのプログラム

説明

キーワード : ATE, HP, 3070, GenRad, erase, program, JTAG, boundary, scan, SVF, DSM, 消去, プログラム, バウンダリ, スキャン

このアンサーでは、自動テスト装置 (ATE) を使用してザイリンクス デバイスをプログラムするのに役立つ ISP のトラブルシュートと一般的なデバッグ方法を示します。

ソリューション

1

1. バウンダリ スキャン チェーンでは、一度に 1 つのデバイスを処理するようにします。

- 次の手順のいずれかがうまくいかない場合は、ターゲット以外のデバイスに BYPASS ではなく HIGHZ (使用可能な場合) を使用してください。

2. すべてのフリー ランニング クロックをディスエーブルにします。

3. ターゲット デバイスから IDCODE を読み出すテスト ベクタを準備し、実行します。

4. ターゲット デバイス消去するテスト ベクタを準備し、実行します。

5. ターゲット デバイスの複数のアドレスをプログラムするテスト ベクタを準備し、実行します。

- 複数デバイスのバウンダリ スキャン チェーンでは、最初ほかのすべてのデバイスがブランクであることを確認します。
- この手順がうまくいかず、ほかのすべてのデバイスがブランクである場合は、ターゲット以外のデバイスに BYPASS ではなく HIGHZ を使用してください。

6. すべてのデバイス ロケーションをプログラムするテスト ベクタを準備し、実行します。

- 複数デバイスのバウンダリ スキャン チェーンでは、最初ほかのすべてのデバイスがブランクであることを確認します。
- この手順がうまくいかず、ほかのすべてのデバイスがブランクである場合は、ターゲット以外のデバイスに BYPASS ではなく HIGHZ を使用してください。

7. すべてのデバイス ロケーションをリードバック (検証) するテスト ベクタを準備し、実行します。

2

ATE および ISP のトラブルシュートのヒント :

1. システムのノイズ耐性を向上するため、プログラムしないデバイスに BYPASS ではなく HIGHZ を使用してください。

2. 消去がうまく行かない場合は、消去時間を 25% 延長します。

3. プログラムがうまく行かない場合は、プログラム時間を 25% 延長します。

4. 消去またはプログラムがうまく行かない場合は、最大再試行回数を 2 倍にします。

3

HP 3070 でのヒント :

(メモ : VCL ファイルでベクタにダブリがある場合は、次のサイトから SVF2VCL の最新版をダウンロードしてください。
http://www.xilinx.com/txpatches/pub/swhelp/cpld/h3070_pc.zip



1. フィクスチャの TCK プローブ ポイントで TCK に 100 オームのプルアップを追加します。

2. フィクスチャの TMS プローブ ポイントで TMS に 100 オームのプルダウンを追加します。

3. TCK、TMS、TDI、および TDO に可能な限り短いリードを使用します。

4. TCK、TMS、TDI、および TDO をクリティカル信号として定義します。

6. 5V 駆動レベルを使用します。

7. TCK および TMS 抵抗に並列に 1nF キャパシタを追加します。

8. ノイズ耐性を向上させるため、ベクタのサイクル時間を変動させます。

9. ノイズ耐性を向上させるため、スルー レートを変動させます。

10. ノイズ耐性を向上させるため、TAP 信号接続にツイスト ペアを使用します。

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GenRad GR228X でのヒント :

1. DSM (Deep Serial Memory) オプションを使用して、ISP 実行時間を最短にし、ディスク ファイル サイズを最小にします。
2. TCK にクロック ドライバを使用するか、TCK に割り当てられたドライバ/センサー ピンに外部バッファを付けます。
AR# 3650
作成日 08/21/2007
最終更新日 12/15/2012
ステータス アクティブ
タイプ 一般