超高スループットかつ広帯域幅の
アプリケーションに最適な
RT Kintex UltraScale FPGA

製品の特長

耐放射線 Kintex UltraScale の製品概要

XQR Kintex® UltraScale FPGA は、性能重視アプリケーション向けの高性能モノリシック FPGA です。DSP およびブロック RAM の対ロジック比率が高く、打ち上げ時や稼働時の振動に対応する航空宇宙グレードのパッケージに次世代トランシーバーを搭載しています。軌道上でもリコンフィギュレーション可能な次世代型の高密度 FPGA であるため、オンボード処理、デジタル ペイロード、リモート センシングなど多数のアプリケーションに最適です。

アプリケーション


RT Kintex UltraScale の主な利点:

  • どこでも何度でもリコンフィギュレーション可能
  • DSP 演算能力が 10 倍以上向上し、複雑なアルゴリズムや解析に対応できる
  • 完全な放射線耐性
  • 機械学習エコシステムにより、宇宙環境での高性能エッジ推論を実現できる
  • Vivado および Vitis による設計サポート
  • 現在プロトタイピングが可能!
rt-kintex-ultrascale
製品一覧

製品一覧

  Virtex – 4QV
(90nm) XQRV4QV
Virtex - 5QV
(65nm) XQRV5QV
RT Kintex UltraScale
(20nm) XQRKU060
耐放射線性 Rad-Tolerant Hard Rad-Tolerant
メモリ (Mb) 4.1 ~ 9.9 12.3 38
システム ロジック セル (K) 55 ~ 200 131 726
CLB フリップ-フロップ (k) 49.1 ~ 178.1 81.9 663
CLB LUTs (k) 49.1 ~ 178.1 81.9 331
MGTs なし 18 (4.25Gbps) 32 (12.5Gbps)
ユーザー I/O 640 ~ 960 836 620
DSP スライス 32 ~ 192 320 2,760
放射線 (TID、SEL) 300, >125 1,000, >125 100, >80
信頼性 (パッケージ、テスト) CNA1509; V-Flow CNA 1752; B-Flow & V-Flow CNA 1509; B-Flow & Y-Flow
資料

資料

デフォルト デフォルト タイトル ドキュメント タイプ 日付
放射線

RT Kintex UltraScale の放射線特性

UltraScale™ アーキテクチャ ベースの航空宇宙グレード XQR デバイスは、独自の CCGA (Ceramic Column Grid Array) パッケージを採用することで、コマーシャ グレード シリコンより優れた性能を提供します。ザイリンクスの B、Y テスト フローなどの厳しい認定フローを通過 (QML 準拠) し、軍事防衛用の動作温度範囲に対応、シングル イベント効果 (SEE) の放射線テストを実施しています。RT Kintex UltraScale デバイスは、回路設計およびレイアウトに関して 40 を超えるザイリンクス独自の特許技術を導入して、SEU 断面積を減らしています。次の表に、RT Kintex UltraScale の放射線特性を示します。

シンボル 説明 最小 標準 最大 単位
TID 総電離線量 (GEO) - 100 120 Krad (Si)
SEL シングル イベント ラッチアップ (SEL) 耐性 - 80 - MeV-cm2/mg
SEUCRAM コンフィギュレーション RAM におけるシングル イベント アップセット (GEO) - 1.0e-8 - アップセット/ビット/日
SEUBRAM ブロック RAM におけるシングル イベント アップセット (GEO) - 8.5e-9 - アップセット/ビット/日
SEFICRAM シングル イベント ファンクショナル インタラプトの軌道上アップセット頻度 - コンフィギュレーション RAM (GEO) - 4.5e-4 - アップセット/デバイス/日

次の表に、シングル イベント効果の種類と特長を示します。詳しい報告書については、宇宙グレード製品のラウンジ サイトをご覧ください。

放射線の種類 放射線の特長 ターゲット/コメント
シングル イベント アップセット (SEU) メモリ エレメントに格納された情報の破損 メモリ、ロジック デバイスのラッチ。シングル ビット アップセット (SBU) やマルチビット アップセット (MBU) を含む。
シングル イベント トランジェント (SET) 特定の振幅と時間のインパルス応答 アナログおよびミックスド シグナル回路。メモリ セルにラッチされている場合、SEU が生じる場合がある。
シングル イベント ラッチアップ (SEL) 大電流状態 CMOS デバイス。ハード エラーが生じる可能性がある。
シングル イベント ファンクショナル インタラプト (SEFI) データパスが壊れて、正常な動作ができなくなる ビルトインのステート マシン/制御セクション、またはシステムを含む複雑なデバイス。